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200kV電界放出形透過電子顕微鏡(JEM-2100F1)

メーカー名
日本電子(株)
型番
JEM-2100F1
仕様
・TEM、STEM、EELS、EDS(点・線分析、元素マッピング)、NBD、CBED
・3次元像観察用試料ホルダー及び再構成ソフト
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NOF利用料金表
問い合わせ先部署
電子顕微鏡ユニット

200kV電界放出形透過電子顕微鏡(JEM-2100F2)

メーカー名
日本電子(株)
型番
JEM-2100F2
仕様
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電子顕微鏡ユニット

200kV透過電子顕微鏡(JEM-2100)

メーカー名
日本電子(株)
型番
JEM-2100
仕様
・加速電圧:200kV
・点分解能:0.25nm
・格子分解能:0.14nm
・LaB6電子銃を搭載
・TEMとEDS (点分析)
・CCDカメラ (Gatan Orius200D) 装備
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電子顕微鏡ユニット

局所変形観察・解析電子顕微鏡(JEM-2800)

メーカー名
日本電子(株)
型番
JEOL JEM-2800
仕様
ショットキーエミッタ、加速電圧:最大200kV、大口径EDS(2x100mm2), エネルギーフィルタ (Gatan QuantumER), ASTAR(プリセッション電子回折)
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電子顕微鏡ユニット

2軸傾斜バイアス印加・加熱TEM試料ホルダー

メーカー名
DENSsolutions
型番
Lightning
仕様
・バイアス電圧:最高150V
・加熱:最高1300℃
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電子顕微鏡ユニット

2軸傾斜液体窒素冷却TEM試料ホルダー

メーカー名
Gatan
型番
Gatan 636
仕様
冷却温度:-160℃
傾斜:二軸傾斜
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電子顕微鏡ユニット

実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡(JEM-ARM200F-B)

メーカー名
日本電子(株)
型番
JEM-ARM200F-B
仕様
【遠隔利用可】
・照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載
・超高分解能(0.08 nm)を実現
・冷陰極電子銃による低加速高分解能STEM
・加速電圧: 60, 80, 200 kV
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電子顕微鏡ユニット

ウルトラミクロトーム(Leica EM UC6)

メーカー名
ライカマイクロシステムズ
型番
EM UC6
仕様
・クライオチャンバー
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電子顕微鏡ユニット

断面試料作製装置(SM-09020CP)

メーカー名
日本電子(株)
型番
SM-09020CP
仕様
・イオン加速電圧:2〜6 kV
・イオンビーム径:500μm
・最大搭載試料サイズ:11 x 10 x 2 mm
・試料角度調整範囲:±5°
・ミリングスピード:100μm/hr
・使用ガス:アルゴン(6N)
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表面・バルク分析ユニット

ハイブリッドコーター(Q150R ES)

メーカー名
クォーラムテクノロジーズ
型番
Q150RES
仕様
・炭素成膜:通電加熱方式(4N-CNTワイヤーから)
・Au成膜:マグネトロンスパッタリング方式
・到達圧力:2 Pa以下
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問い合わせ先部署
表面・バルク分析ユニット

"千現(つくば)"で検索した結果  174件

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