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多目的X線回折装置_Cu_SSL
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- SmartLab (9 kW)
- 仕様
- ・高輝度X線発生装置：最大出力9 kW
・X線波長：Cu Kα
・X線検出器：ハイブリッドピクセルアレイ検出器（HyPix-3000）
・試料部：試料水平型
・低温装置：-170 ℃～600 ℃（真空、N2）
・高温装置：室温～1000 ℃（真空）
・極点図測定
・残留応力測定
・引張応力下でのX線回折測定（最大荷重5 N）
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
卓上型X線回折計_Cu_SMF
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- MiniFlex600
- 仕様
- ・X線発生装置：最大出力0.6 kW
・X線波長：Cu Kα
・X線検出器：1次元型半導体式
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
卓上型粉末回折計_Cr_SCR
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- MiniFlex600-Cr
- 仕様
- ・X線発生装置：最大出力0.6 kW
・X線波長：Cr Kα
・試料部：試料水平型
・X線検出器：1次元型半導体式
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
電界放出形電子線プローブマイクロアナライザー装置（JXA-8500F）
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JXA-8500F
- 仕様
- ・電界放出形電子銃
・加速電圧：1～30 kV
・照射電流：10 pA ～500 nA
・測定可能元素：Be～U
・最大試料サイズ：100 x 100 x 50 mm
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
誘導結合プラズマ発光分析装置（マルチ型）（720 ICP-OES）
- メーカー名
- アジレント・テクノロジー(株)
- 型番
- 720 ICP-OES
- 仕様
- ・プラズマ観測方向：アキシャル
・分光器：エシェルクロス分散ポリクロメータ
・検出器：CCD検出器
・測定波長範囲：167～785 nm
・プラズマ・イオン種：Ar
・プラズマ周波数：40 MHz
・RF出力：～1.5 kW
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
誘導結合プラズマ発光分光分析装置（マルチ型・デュアルビュー）
- メーカー名
- アジレント・テクノロジー株式会社
- 型番
- Agilent5800
- 仕様
- ・プラズマ観測方向；アキシャル、ラジアルに切替可
・分光器：エシェルクロス分散ポリクロメータ
・検出器：CCD検出器
・測定波長範囲：167～785 nm
・プラズマ・イオン種：Ar
・プラズマ周波数：27 MHz
・RF出力：～1.5 kW
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
微小部蛍光X線分析装置（ORBIS PC）
- メーカー名
- アメテック株式会社
- 型番
- ORBIS PC
- 仕様
- ・X線源：マイクロフォーカス型Rh管球
・X線出力：電圧～50 kV、電流～1 mA
・X線集光部：30 μm径ポリキャピラリー
・X線検出器：液体窒素レス型SSD検出器
・測定可能元素種：Na～U
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
走査型オージェ電子分光分析装置（JAMP-9500F）
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JAMP-9500F
- 仕様
- ・ショットキー電界放射電子銃
・空間分解能：<8 nm
・加速電圧：0.5～30 kV
・照射電流：0.1～100 nA
・測定元素：Li～U
・最大試料サイズ：14 x 14 x 5 mm
・半球型アナライザー搭載
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
X線光電子分光分析装置（XPS-Quantera SXM）
- メーカー名
- アルバック・ファイ(株)
- 型番
- Quantera SXM
- 仕様
- ・走査型単色Al Kα集束X線源
・最小X線ビーム径：< 10 µm
・X線源パワー：1～50 W
・エネルギー分解能：< 0.5 eV（Ag 3d5/2）
・最大試料サイズ： 60 x 60 x 5 mm
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
酸素窒素水素分析装置（ONH836）、炭素硫黄分析装置（CS844）
- メーカー名
- LECOジャパン合同会社
- 型番
- ONH836、CS844
- 仕様
- ［酸素･窒素・水素分析装置］
加熱方式：インパルス加熱
検出方式：赤外線検出方式/熱伝導度検出方式
分析範囲：
［酸素］10 ppm～3%
［窒素］10 ppm～3%（試料重量1 g時）
［水素］10 ppm～2500 ppm（試料重量1 g時）
［炭素･硫黄分析装置］
加熱方式：高周波加熱炉
検出方式：赤外線検出方式
分析範囲：
［炭素］10 ppm～6%
［硫黄］10 ppm～6%（試料重量1 g時）
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- 表面・バルク分析ユニット
"千現（つくば）"で検索した結果 170件
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