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四重極型ICP質量分析装置
- メーカー名
- アジレント・テクノロジー株式会社
- 型番
- Agilent7850
- 仕様
- 1. 高周波電源部
周波数：27 MHz 出力：1600 W
2. 試料導入部
マスフローコントロールガス制御
高マトリックス対応スプレーチャンバー
ペリスタポンプ（3連）
3. インターフェース部
コーン：ニッケル、白金
4. 真空システム
3段差動排気
5. コリジョンリアクションセル
Heガス対応
6. 質量分析計
四重極型
分解能：0.3-1.0 u
質量分析範囲：2～260 u
7. 検出部
90度偏向型二次電子増倍管
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
ワイヤーボンダー [7476D #1]
- メーカー名
- West·Bond
- 型番
- Model 7476D
- 仕様
- ・ボンディング方式：超音波ウエッジ・ウエッジ技法
・ワイヤ：0.007～0.002インチ径のアルミ又は金ワイヤワークピースの加熱が可能
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
分光エリプソメーター [M2000]
- メーカー名
- J.A.Woollam
- 型番
- M-2000U
- 仕様
- ・波長範囲：250～1000 nm
・補償子：回転式
・入射角：自動制御、45～90°
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
熱分析装置（TG/DTA＋DSC）
- メーカー名
- 日立ハイテクサイエンス
- 型番
- TG/DTA 6200, X-DSC7000
- 仕様
- ＜TG/DTA＞
・温度範囲：RT ～ 1000℃
・雰囲気： N2 or Air
＜DSC＞
・温度範囲：-150 ～ 725℃
・雰囲気： N2
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
ゼータ電位＆粒径測定装置（ELSZ-2000ZS）
- メーカー名
- 大塚電子(株)
- 型番
- ELSZ-2000ZS
- 仕様
- ・粒径： 0.6 nm ～ 8 µm
・ゼータ電位： -200 ～ +200 mV
・試料濃度：0.00001～40％
・測定温度：
0～90℃（ガラスセル）
10～50℃ （ディスポセル）
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
紫外可視近赤外分光計（V-770）
- メーカー名
- 日本分光（株）
- 型番
- V-770
- 仕様
- ・光源：重水素ランプ、ハロゲンランプ
・測定波長範囲：190～3200 nm
・バンド幅：0.4～10 nm可変
・測定対象形状：液体、粉体、フィルム
・付属試料ホルダー：標準セルホルダー、フィルムホルダー、回転試料ホルダー、１回反射測定ユニット、積分球ユニット
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
分光蛍光光度計（FP-8500DS）
- メーカー名
- 日本分光
- 型番
- FP-8500DS
- 仕様
- ・光源：150-W Xeランプ
・測定波長範囲：
発光波長：200～850 nm
励起波長：200～850 nm
・波長走査速度：
蛍光側：20～120,000 nm/min
励起側：10～60,000 nm/min
・温度範囲：0～100°C
・対象試料形状：液体、粉体、フィルム
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- 表面・バルク分析ユニット
"並木（つくば）"で検索した結果 37件
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