共用設備検索結果
さらに絞り込む
※装置名をクリックすると詳細情報が閲覧できます
卓上電子顕微鏡 [TM3000]
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ / Bruker
- 型番
- TM3000
- 仕様
- ・反射電子観察
・最大倍率: 50000
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
FE-SEM [S-4800]
- メーカー名
- (株)日立ハイテクノロジーズ
- 型番
- S-4800
- 仕様
- ・電子銃 ZrO/W 電界放射型
・加速電圧 0.1-30kV
・2次電子像分解能 1.0nm (ノーマル:15kV) 1.4nm (リターディング:1.0kV)
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
FE-SEM+EDX [S-4800]
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ / 堀場製作所
- 型番
- S4800 / X-MAX 80
- 仕様
- ・加速電圧:0.5~30kV ,
・最大倍率:800k ,
・検出器:SE/BSE
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
FE-SEM+EDX [SU8000]
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ / Bruker
- 型番
- SU8000 / Quantax FQ5060
- 仕様
- ・加速電圧: 0.5~30kV ,
・最大倍率: 800k ,
・検出器: SE/BSE
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
FE-SEM+EDX [SU8230]
- メーカー名
- (株)日立ハイテクノロジーズ
- 型番
- SU8230
- 仕様
- ・冷陰極電界放出電子銃
・分解能:0.8 nm (15 kV) , 1.1 nm (1 kV)
・付加機能:EDX、反射電子検出器、簡易STEM(明.暗視野)
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
走査型プローブ顕微鏡 [Jupiter XR]
- メーカー名
- オックスフォード・インストゥルメンツ Oxford Instruments
- 型番
- Jupiter XR
- 仕様
- ・測定モード:形状測定、メカニカル測定、電気測定、磁気測定、等
・走査範囲:90μm
・ステージ可動範囲:200mm角
・試料サイズ:最大φ8インチ
【特徴】・高速スキャン ・広域アクセス ・多様なイメージングモード ・光熱励振タッピング
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
レーザー顕微鏡 [LEXT OLS4000]
- メーカー名
- オリンパス
- 型番
- LEXT OLS4000
- 仕様
- ・光源 405nm半導体レーザー
・分解能 XY:0.12um/Z:0.01um
・繰り返し性 XY:3σ=0.02um,/Z:1σ=0.012um(対物レンズ100倍時)
・観察モード レーザー観察,白色光明視野,微分干渉観察
・試料サイズ 100mm角以下
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
触針式プロファイラー [Dektak XT-A #1]
- メーカー名
- ブルカージャパン Bruker
- 型番
- Dektak XT-A
- 仕様
- 【性能・仕様】
・分解能:1Å(6.5μmレンジ)
・走査距離:55mm
・触圧範囲:0.03-15mg
・試料サイズ:最大φ8インチ
・その他:自動ステージ、3Dマップ・粗さ・ストレス測定、等
【特徴】
・触針による表面形状計測
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
室温プローバー [MX-200/B]
- メーカー名
- ベクターセミコン, アジレント・テクノロジー
- 型番
- MX-200/B, B1500A
- 仕様
- ・プローブ 同軸プローブ
・マニピュレータ 4基
・I-V測定端子 4ユニット
・C-V測定端子 1ユニット
・試料サイズ 最大φ4インチ
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
ワイヤーボンダー [7476D #1]
- メーカー名
- West·Bond
- 型番
- Model 7476D
- 仕様
- ・ボンディング方式:超音波ウエッジ・ウエッジ技法
・ワイヤ:0.007~0.002インチ径のアルミ又は金ワイヤワークピースの加熱が可能
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
"微細加工ユニット"で検索した結果 55件
- 0年0月0日
- 印刷する