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800MHzナローボア固体高分解能NMRシステム

メーカー名
(株)JEOL RESONANCE
型番
JNM-ECA 800
仕様
・磁場:18.79 T (固定) (1H: 800 MHz相当)
・ボア径:54 mm (室温)
・永久電流モードで常時運転
・磁場均一度:2.6×10⁻⁶/20 mm DSV
・プローブ:HX (1 mmφ/70 kHz, 3.2 mmφ/22 kHz)
・CP/MAS, MQMAS, Low γ-MAS
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問い合わせ先部署
強磁場計測ユニット

2波長Pilatus低温単結晶X線回折装置_NSC

メーカー名
(株)リガク
型番
VariMax DW with Saturn
仕様
・X線波長:MoもしくはCu(自動切り替え)
・高輝度X線源:試料部輝度 31 kW/mm2
・X線検出器:高感度・低ノイズ型半導体検出器PILATUS200K
・角度分解能可変:カメラ長 40~115 mm
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NOF利用料金表
問い合わせ先部署
表面・バルク分析ユニット

温度可変型粉末X線回折装置_Cu1_NTS

メーカー名
(株)リガク
型番
SmartLab (9 kW) with cryostat/furnace
仕様
・高輝度X線発生装置:最大出力9 kW
・X線波長:Cu Kα1
・X線検出器:高性能1次元型半導体検出器(D/teX ULTRA 250)
・試料部:試料水平型
・低温装置:2.6 K~室温(真空)
・高温装置:室温~1500℃(空気、He、N2、O2、Ar、真空)
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表面・バルク分析ユニット

多目的X線回折装置_Cu_SSL

メーカー名
(株)リガク
型番
SmartLab (9 kW)
仕様
・高輝度X線発生装置:最大出力9 kW
・X線波長:Cu Kα
・X線検出器:ハイブリッドピクセルアレイ検出器(HyPix-3000)
・試料部:試料水平型
・低温装置:-170 ℃~600 ℃(真空、N2)
・高温装置:室温~1000 ℃(真空)
・極点図測定
・残留応力測定
・引張応力下でのX線回折測定(最大荷重5 N)
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表面・バルク分析ユニット

高速・高感度型粉末X線回折装置_Cu_ASC_NS3

メーカー名
(株)リガク
型番
SmartLab3
仕様
・X線発生装置:最大出力3.0 kW
・X線波長:Cu Kα
・X線検出器:1次元型半導体式
・試料部:試料水平型
・6連自動試料交換機
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表面・バルク分析ユニット

多環境場対応型X線単結晶構造解析装置

メーカー名
リガク
型番
XtaLAB SynergyCustom DW
仕様
金属・セラミックス・有機物など試料の精密結晶構造解析、電子密度解析が可能
1. X線発生装置:最大出力2.97 kW
2. X線波長:Mo Ka、Cu Ka
3. X線検出器:2次元型半導体式
4. ガス吹付型低温装置(最低:20 K、Heガス使用時)
5. ガス吹付型高温装置(最高:1073 K)
6. XRF用プローブ(最低元素:P)
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NOF利用料金表
問い合わせ先部署
表面・バルク分析ユニット

卓上型X線回折計_Cu_SMF

メーカー名
(株)リガク
型番
MiniFlex600
仕様
・X線発生装置:最大出力0.6 kW
・X線波長:Cu Kα
・X線検出器:1次元型半導体式
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表面・バルク分析ユニット

卓上型粉末回折計_Cr_SCR

メーカー名
(株)リガク
型番
MiniFlex600-Cr
仕様
・X線発生装置:最大出力0.6 kW
・X線波長:Cr Kα
・試料部:試料水平型
・X線検出器:1次元型半導体式
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表面・バルク分析ユニット

卓上型粉末回折計_Cu_ASC_NC1

メーカー名
(株)リガク
型番
MiniFlex600-Cu
仕様
・X線発生装置:最大出力0.6 kW
・X線波長:Cu Kα
・試料部:試料水平型
・X線検出器:1次元型半導体式
・6連自動試料交換機
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表面・バルク分析ユニット

卓上型粉末回折計_Cu_ASC_NC2

メーカー名
リガク
型番
MiniFlex600-Cu_N2
仕様
・X線発生装置:最大出力0.6 kW
・X線波長:Cu Ka
・試料部:試料水平型
・X線検出器:1次元型半導体式
・6連自動試料交換機
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問い合わせ先部署
表面・バルク分析ユニット

"利用可能"で検索した結果  160件

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