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FE-SEM [S-4800]

メーカー名
(株)日立ハイテクノロジーズ
型番
S-4800
仕様
・電子銃 ZrO/W 電界放射型
・加速電圧 0.1-30kV
・2次電子像分解能 1.0nm (ノーマル:15kV) 1.4nm (リターディング:1.0kV)
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NOF利用料金表
問い合わせ先部署
微細加工ユニット

FE-SEM+EDX [S-4800]

メーカー名
日立ハイテクノロジーズ / 堀場製作所
型番
S4800 / X-MAX 80
仕様
・加速電圧:0.5~30kV ,
・最大倍率:800k ,
・検出器:SE/BSE
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問い合わせ先部署
微細加工ユニット

FE-SEM+EDX [SU8000]

メーカー名
日立ハイテクノロジーズ / Bruker
型番
SU8000 / Quantax FQ5060
仕様
・加速電圧: 0.5~5kV ,
・最大倍率:800k ,
・加速電圧:SE/BSE
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微細加工ユニット

FE-SEM+EDX [SU8230]

メーカー名
(株)日立ハイテクノロジーズ
型番
SU8230
仕様
・冷陰極電界放出電子銃
・分解能:0.8 nm (15 kV) , 1.1 nm (1 kV)
・付加機能:EDX、反射電子検出器、簡易STEM(明.暗視野)
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問い合わせ先部署
微細加工ユニット

200kV電界放出形透過電子顕微鏡(JEM-2100F1)

メーカー名
日本電子(株)
型番
JEM-2100F1
仕様
・TEM、STEM、EELS、EDS(点・線分析、元素マッピング)、NBD、CBED
・3次元像観察用試料ホルダー及び再構成ソフト
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問い合わせ先部署
電子顕微鏡ユニット

200kV電界放出形透過電子顕微鏡(JEM-2100F2)

メーカー名
日本電子(株)
型番
JEM-2100F2
仕様
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問い合わせ先部署
電子顕微鏡ユニット

200kV透過電子顕微鏡(JEM-2100)

メーカー名
日本電子(株)
型番
JEM-2100
仕様
・加速電圧:200kV
・点分解能:0.25nm
・格子分解能:0.14nm
・LaB6電子銃を搭載
・TEMとEDS (点分析)
・CCDカメラ (Gatan Orius200D) 装備
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問い合わせ先部署
電子顕微鏡ユニット

2軸傾斜バイアス印加・加熱TEM試料ホルダー

メーカー名
DENSsolutions
型番
Lightning
仕様
・バイアス電圧:最高150V
・加熱:最高1300℃
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電子顕微鏡ユニット

2軸傾斜液体窒素冷却TEM試料ホルダー

メーカー名
Gatan
型番
Gatan 636
仕様
冷却温度:-160℃
傾斜:二軸傾斜
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電子顕微鏡ユニット

実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡(JEM-ARM200F-B)

メーカー名
日本電子(株)
型番
JEM-ARM200F-B
仕様
【遠隔利用可】
・照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載
・超高分解能(0.08 nm)を実現
・冷陰極電子銃による低加速高分解能STEM
・加速電圧: 60, 80, 200 kV
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問い合わせ先部署
電子顕微鏡ユニット

"利用可能"で検索した結果  160件

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