マルチモーダル分析電子顕微鏡
| 装置ID | NF0287 |
|---|---|
| 装置名称 | マルチモーダル分析電子顕微鏡 |
| メーカー名 | 日本エフイー・アイ株式会社 |
| 型番 | Talos F200X G2 |
| 用途 | 材料開発に必要な形態観察、元素分析、場の観察：TEM観察、回折図形取得、STEM（明視野、暗視野）、EDS測定、DPC測定、Tomography（TEM/STEM/EDS） Morphological observation, elemental analysis, and field observation required for material development: TEM observation, diffraction pattern acquisition, STEM (bright field, dark field), EDS measurement, DPC measurement, and tomography (TEM/STEM/EDS) |
| 仕様 | 【性能・仕様】 1.加速電圧：200kV,80kV 2.電子銃：超高輝度冷陰極電解放出型電子銃 3.TEMインフォメーションリミット：0.11nm（200kV） 4.STEM分解能（HAADF）：0.14nm（200kV） 5.EDS検出器：SSD検出器×4、立体角；0.9srad 6.カメラ：CMOSカメラ 7.分割型検出器 【特徴】 1.ビギナーレベルのユーザーが苦手とする電子光学的軸調整やサンプルの方位合わせなどの負担を減らすための安定した制御システムとソフトウェア 2.高倍率でも視野を見失わない安定したステージとゴニオメーター 3.大立体角EDS検出器 |
| 利用時間単位 | セッション（3.5h） |
|---|---|
| 利用可能形態 |
|
| 料金案内 | NOF利用料金表 |
| マテリアル先端リサーチインフラの利用 | ○ |
| 問い合わせ先部署 | 電子顕微鏡ユニット |
| 設置場所 | 千現地区 精密計測実験棟128室 |
※予約状況につきましては、お問い合わせください。
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