200kV電界放出形透過電子顕微鏡（JEM-2100F1）
| 装置ID | NF0208 |
|---|---|
| 装置名称 | 200kV電界放出形透過電子顕微鏡（JEM-2100F1） |
| メーカー名 | 日本電子(株) |
| 型番 | JEM-2100F1 |
| 用途 | ・TEM解析 |
| 仕様 | ・TEM、STEM、EELS、EDS（点・線分析、元素マッピング)、NBD、CBED ・3次元像観察用試料ホルダー及び再構成ソフト |
| 利用時間単位 | セッション（3.5h） |
|---|---|
| 利用可能形態 |
|
| 料金案内 | NOF利用料金表 |
| マテリアル先端リサーチインフラの利用 | ○ |
| 問い合わせ先部署 | 電子顕微鏡ユニット |
| 設置場所 | 千現地区 精密計測実験棟 126号室 |
※予約状況につきましては、お問い合わせください。
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